Искать
Отображаемые элементы 1-6 из 6
Образование и безопасность: методология, теория, практика: сб.науч.ст.
(2013-12-17)
Сборник научных статей «Образование и безопасность: методология, теория, практика» содержит тексты, представленные профессорско-преподавательским составом кафедры педагогики и психологии профессионального образования ...
Здоровьесберегающее образование – залог безопасной жизнедеятельности молодежи: проблемы и пути решения: материалы VIII Междунар. науч.-практ. конф., г. Челябинск, 7–8 нояб. 2013 г.
(2013-12-17)
В сборнике представлены статьи специалистов из разных регионов России и зарубежных ученых, отражающие медико-педагогические, социально-психологические, экологические аспекты здоровья человека на современном этапе, отражена ...
Методология и методика формирования научных понятий у учащихся школ и студентов вузов: материалы Усовских чтений: XX Междунар. науч.-практ. конф., 4-5 апреля, 2013г. Челябинск. Часть 1.
(2013-12-17)
Публикуются аналитические материалы в авторской редакции преподава-
телей вузов, аспирантов, учителей школ по методологии и методике формиро-
вания научных понятий у учащихся школ и студентов вузов.
Сборник предназначен ...
Непрерывная экологическая и экономическая подготовка молодежи: сб. научных трудов / под общ. ред. А.Ф. Аменда, А.А. Саламатова, А.А. Горчинской
(2013-12-17)
В работе рассматривается достаточно широкий круг вопросов и проблем, связанных с осуществлением непрерывной экологической и экономической подготовки молодежи, а также их интеграцией. Читателям предоставлена воз-можность ...
Применение инновационных технологий в образовании
(2013)
Материалы XXIV Международной конференции «Применение инновационных технологий в образовании», 26 – 27 июня 2013г. г. Москва, г.Троицк – Департамент образования города Москвы, Администрация городского округа Троицк, ...
Kinetics of PVDF film degradation under electron bombardment
(2013)
A dose effect of high-energy (20 keV) electron irradiation on the chemical composition of PVDF films has been revealed using a scanning electron microscope Jeol JSM-7001F equipped with an X-ray fluorescence spectrometer ...