Показать сокращенную информацию
Микросхемы должны быть устойчивы к сбоям от рождения. Ошибки и отказы в космосе можно предусмотреть заранее
| dc.contributor.author | Брехов, Олег | |
| dc.date.accessioned | 2017-06-01T05:00:44Z | |
| dc.date.available | 2017-06-01T05:00:44Z | |
| dc.date.issued | 2017-06-01 | |
| dc.identifier.uri | http://elib.cspu.ru/xmlui/handle/123456789/1310 | |
| dc.description.abstract | Микроэлектроника проникла практически всюду — от бытовых приборов до спутников и систем воо ружения. Современные технологии позволяют на базе одного чипа реализовывать все более слож ные вычислительные системы, и к их надежности предъявляются все более высокие требования. Надежность же подразумевает механизмы, обеспечивающие устойчивость к сбоям и отказам. Клю- чевой задачей становится тестирование таких механизмов на ранних стадиях разработки микросхем | ru_RU |
| dc.language.iso | other | ru_RU |
| dc.subject | Микроэлектроника | ru_RU |
| dc.subject | Микросхемы | ru_RU |
| dc.subject | Устойчивость к сбоям микросхем | ru_RU |
| dc.title | Микросхемы должны быть устойчивы к сбоям от рождения. Ошибки и отказы в космосе можно предусмотреть заранее | ru_RU |
| dc.title.alternative | Коммерсантъ Наука : информационный бюллетень. – 2017. - № 2 (апрель). – С. 34-36 | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |