http://elib.cspu.ru/xmlui/handle/123456789/346 2026-04-03T18:04:54Z http://elib.cspu.ru/xmlui/handle/123456789/674 НЕОДНОРОДНОСТЬ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ АТОМОВ ФТОРА ПО ГЛУБИНЕ ПРИ РАДИАЦИОННОЙ КАРБОНИЗАЦИИ ПОЛИВИНИЛИДЕНФТОРИДА Песин, Леонид Абрамович; Андрейчук, В.П.; Морилова, В.М.; Грибов, И.В.; Москвина, Н.А.; Кузнецов, В.Л.; Евсюков, С.Е.; Корякова, О.В.; Мокрушин, А.Д.; Егоров, Е.В. Под воздействием ионизирующего излучения в пленке ПВДФ происходит отрыв атомов водорода и фтора, присоединенных к линейной углеродной цепи ПВДФ одинарными химическими связями. Свободные атомы и молекулы HF диффундируют к поверхности пленки и покидают ее. В результа те радиационного воздействия на поверхность образца устанавливается градиент концентрации фтора по глубине. Нами исследовался характер распределения фтора в пленках ПВДФ, подвергав шихся длительному рентгеновскому облучению. Использовались методы рентгеновской фотоэлек тронной спектроскопии (РФЭС) и резерфордовского обратного рассеяния (РОР). Оба метода дают близкие значения концентрации атомов фтора на глубине около 10 нм. 2013-01-01T00:00:00Z http://elib.cspu.ru/xmlui/handle/123456789/673 Проявление Оже-процессов в C1s -сателлитных спектрах одностенных углеродных нанотрубок Бржезинская, М.М.; Песин, Леонид Абрамович; Морилова, В.М.; Байтингер, Е.М. Используя оборудование Российско-германского канала синхротронного излучения электронного накопителя БЭССИ II, с высоким энергетическим разрешением измерены сателлитные спектры, сопутствующие Cls-остовным линиям в одностенных углеродных нанотрубках и высокоупорядоченном пирографите. Обнаружены и исследованы Оже-спектры, сопутствующие встряхиванию валентной системы углерода остовной вакансией. Оже-спектры исследованных одностенных углеродных нанотрубок и высокоупорядоченного пирографита обусловлены аннигиляцией возбуженного π -электрона с дыркой в π-подзоне. Установлено, что электронные состояния в зоне проводимости имеют 3π (Ŵ, K, M) симметрию: т. е. соответствуют плоской 3π -подзоне, которая локализована выше уровня Ферми на 12−13 eV. Выяснено, что при встряске валентной системы возбужденным остовом общие закономерности распределения электронных состояний в ней деформируются несущественно. Работа выполнена в рамках двухсторонней программы ”Российско-германская лаборатория БЭССИ" 2012-01-01T00:00:00Z http://elib.cspu.ru/xmlui/handle/123456789/668 О возможности синтеза одномерного углерода при радиационной карбонизации ПВДФ Чеботарев, С.С.; Песин, Леонид Абрамович; Грибов, И.В.; Москвина, Н.А.; Кузнецов, В.Л.; Евсюков, С.Е. Исследовалась модификация РФЭС и C KVV-спектров в результате долговременного воздействия мягкого рентгеновского излучения, потока вторичных электронов и последующей бомбардировки ионами аргона поверхности частично кристаллической пленки поливинилиденфторида (ПВДФ). Глубокая радиационная карбонизация приводит к формированию карбоноидных структур (цепочечного углерода) на повехности ПВДФ. Ионная бомбардировка демонстрирует нестабильность карбонизованной поверхности образца, приводя к формированию sp2-гибридных связей атомов углерода. Полученные результаты являются косвенным экспериментальным доказательством, что до ионной бомбардировки связи sp-типа доминировали на карбонизованной поверхности ПВДФ 2008-01-01T00:00:00Z http://elib.cspu.ru/xmlui/handle/123456789/667 Распределение концентрации фтора по глубине при радиационной карбонизации ПВДФ Воинкова, И.В.; Песин, Леонид Абрамович; Волегов, А.А.; Евсюков, С.Е.; Грибов, И.В.; Кузнецов, В.Л.; Москвина, Н.А. Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии измерена интегральная интенсивность Fls-спектра и его сателлита в процессе долговременной радиационной карбонизации поливинилиденфторида (ПВДФ). Предложена модель, описывающая влияние распространения фтора по глубине на форму и интенсивность Fls-спектров. На основе сопоставления экспериментальных данных и модельных расчетов проведена оценка концентрационной неоднородности при радиационной карбонизации ПВДФ, а также глубины выхода фотоэлектронов и вероятности однократной потери энергии фотоэлектроном при транспортировке к поверхности. Описан способ определения концентрации фтора, основанный на существовании химических сдвигов Cls-линии в сторону большей энергии связи для тех атомов углерода, которые химически связаны с одним или двумя атомами фтора 2007-01-01T00:00:00Z